作物表型檢測系統價格、生產廠家、品牌、型號、區別、簡介
[簡介]水稻表型檢測系統可測量水稻株高、夾角、莖粗、水稻畝穗數、理論產量、水稻穗粒數、一/二次枝梗數量和長度、各枝梗穗粒數、著粒密度、穗長、總粒數和千粒重等指標，
TPS-BX-1
托普云農
[簡介]小麥表型檢測系統可測量小麥株高、夾角、莖粗、小麥畝穗數、理論產量、穗長、小穗數、總粒數和千粒重等指標
TPM-BX-1
托普云農
[簡介]玉米表型檢測系統可以測量凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側視角緊湊度、側視角投影面積、株高、莖稈節間距和莖粗、葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角和千粒重等指標。
TPY-BX-1
托普云農
[簡介]大豆表型檢測儀可以測量大豆夾角、莖粗、總粒數和千粒重等指標，這些高通量表型參數為大豆品種篩選、產量預測、基因定位、功能解析等方面發揮著至關重要的作用。
TPD-BX-1
托普云農
[簡介]一種基于圖像識別的“玉米株型分析系統”不僅能夠實現對傳統手工測量的替代，多參數一次性獲取的特征也能顯著提高分析效率，對于現代農業育種、涉農科研和農業生產有著巨大的推動作用。
TPMT-X-1
托普云農
[簡介]水稻整穗考種儀可以測量各枝梗穗粒數、一次枝梗長度和對應穗粒數、二次枝梗長度和對應穗粒數、枝梗著粒密度、穗著粒密度以及平均值、種子粒數、千粒重。
TPDS-X-1 plus
托普云農
[簡介]作物表型數據采集儀用于測量作物表型性狀數據，包含角度測量、長度測量、粗度測量、葉面積測量等功能。
TPZW-BX-1
托普云農
| 同類信息共1頁 當前頁1/1 | 首頁| 尾頁|轉到第頁 |
型號：TP-R420D-VC/TP-R1000D-VC/TP-R420D-VCM/TP-R1000D-VCM
©2025 http://m.mio7.cn/ 版權所有：浙江托普云農科技股份有限公司
地址：浙江省杭州市拱墅區溪居路182號
聯系電話：0571-86056609 0571-86059660 0571-88971438
售后服務專線：400-672-1817
浙ICP備09083614號
